提高目标模拟精度过程中校准数据的自动获取  

Automatic Acquisition of Calibration Data in the Process of Improving Target Simulation Accuracy

作　　者：魏明[1] 陈宁[1] 付家骏 卢秋沅 

机构地区：[1]北京理工大学电子信息与电子学院,北京100081

出　　处：《微波学报》2012年第S2期429-432,共4页Journal of Microwaves

基　　金：国家自然科学基金(60671057)

摘　　要：幅度相误差会影响四元组射频目标模拟器中的最终目标模拟位置的精度。为了最大程度减小幅相误差,采用迭代方法进行校准。迭代校准方法需要各射频器件的实际S21的幅值和相位的实测数据,而高分辨率的数控衰减器和移相器所需测量数据巨大,传统手工测试效率低下且准确度难以保证。为解决此问题,本文设计了一种基于VEE的自动测试系统。幅度相误差会影响四元组射频目标模拟器中的最终目标模拟位置的精度。为了最大程度减小幅相误差,采用迭代方法进行校准。迭代校准方法需要各射频器件的实际S21的幅值和相位的实测数据,而高分辨率的数控衰减器和移相器所需测量数据巨大,传统手工测试效率低下且准确度难以保证。为解决此问题,本文设计了一种基于VEE的自动测试系统。

关 键 词：目标模拟 自动测试 校准 

分 类 号：TN820[电子电信—信息与通信工程] TP391.41[自动化与计算机技术—计算机应用技术]