检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张成华[1,2,3,4,5] 张柯[1,5] 徐红星[1] 宋琪[1,5] 杨永涛[1,6] 于仁红[1,6] 徐东[1,2,3,4,5] 程晓农[1,5]
机构地区:[1]江苏大学材料科学与工程学院,镇江212013 [2]中国科学院半导体研究所半导体材料科学重点实验室,北京100083 [3]西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049 [4]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054 [5]常州江苏大学工程技术研究院,常州213000 [6]常州明尔瑞陶瓷有限公司,常州213102
出 处:《中国有色金属学会会刊:英文版》2012年第S1期127-132,共6页Transactions of Nonferrous Metals Society of China
基 金:Projects (BK2011243, BK2012156) supported by the Natural Science Foundation of Jiangsu Province;Project (EIPE11204) supported by the State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment;Project (KF201104) supported by the State Key Laboratory of New Ceramic and Fine Processing;Project (KFJJ201105) supported by the Opening Project of State key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices;Project (10KJD430002) supported by the Universities Natural Science Research Project of Jiangsu Province;Project (CJ20125001) supported by the Application Program for Basic Research of Changzhou;Project (11JDG084) supported by the Research Foundation of Jiangsu University
摘 要:采用溶胶凝胶法制备掺杂不同含量NiO(CaCu3NixTi4O12+x,x=0, 0.1, 0.2, 0.3)的CCTO陶瓷,通过扫描电镜和 X 射线衍射对其显微组织和相成分进行了分析,并研究了NiO掺杂对CCTO介电和压敏性能的影响。研究结果表明:Ni对CCTO陶瓷的相位成分没有影响,与用传统固相法制得的样品相比,用溶胶-凝胶法制成的样品具有更小的晶粒尺寸。从介电测量结果来看,当 x=0.2 时,样品具有最高的介电常数和最低的介电损耗。当x=0.3时,得到最低的漏电流,最小值为 0.295,同时,具有最高的阀值电压与非线性系数,最大值分别为1326V/mm和3.1。采用溶胶凝胶法制备掺杂不同含量NiO(CaCu3NixTi4O12+x,x=0, 0.1, 0.2, 0.3)的CCTO陶瓷,通过扫描电镜和 X 射线衍射对其显微组织和相成分进行了分析,并研究了NiO掺杂对CCTO介电和压敏性能的影响。研究结果表明:Ni对CCTO陶瓷的相位成分没有影响,与用传统固相法制得的样品相比,用溶胶-凝胶法制成的样品具有更小的晶粒尺寸。从介电测量结果来看,当 x=0.2 时,样品具有最高的介电常数和最低的介电损耗。当x=0.3时,得到最低的漏电流,最小值为 0.295,同时,具有最高的阀值电压与非线性系数,最大值分别为1326V/mm和3.1。
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