SoC中混合信号测试与可测性设计研究  

SoC Mixed-Signal Test and Design for Testability

作　　者：魏淑华[1] 侯明金[1] 

机构地区：[1]北方工业大学信息工程学院微电子中心,北京100041

出　　处：《计算机研究与发展》2010年第S1期190-194,共5页Journal of Computer Research and Development

摘　　要：SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望.SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望.

关 键 词：混合信号 故障诊断 DFT BIST 边界扫描 IEEE1149.4 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]