考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型  被引量:1

Software Riability Growth Model Considering Imperfect Debugging with Logistic Testing Coverage Function

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作  者:李海峰[1] 王学成[1] 李秋英[1] 陆民燕[1] 曾敏[1] 

机构地区:[1]北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京100191

出  处:《计算机研究与发展》2010年第S1期216-223,共8页Journal of Computer Research and Development

基  金:国家"十一五"总装备部预研基金项目

摘  要:软件可靠性增长模型(SRGMs)是软件可靠性定量评估的重要手段.测试覆盖率与不完美排错则是两种可有效改进软件可靠性增长模型评估性能的重要因素.将两种不完美排错假设与Logistic测试覆盖率函数分别引入NHPP类软件可靠性建模过程,提出两种考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型(即ILTCS1与ILTCS2),并将这两种新模型与14种现有软件可靠性模型(包括经典模型、测试覆盖率模型以及不完美排错模型)分别应用于3组真实失效数据集.实例验证结果表明:1)ILTCS2模型在3组失效数据集上的评估结果均为最好(MSE值最小),且显著好于多数对比模型.这表明ILTCS2模型具有优秀的评估性能及适用性;2)选择合适的"完美排错"假设或"测试覆盖率"函数对模型评估性能的改进确实有重要影响.软件可靠性增长模型(SRGMs)是软件可靠性定量评估的重要手段.测试覆盖率与不完美排错则是两种可有效改进软件可靠性增长模型评估性能的重要因素.将两种不完美排错假设与Logistic测试覆盖率函数分别引入NHPP类软件可靠性建模过程,提出两种考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型(即ILTCS1与ILTCS2),并将这两种新模型与14种现有软件可靠性模型(包括经典模型、测试覆盖率模型以及不完美排错模型)分别应用于3组真实失效数据集.实例验证结果表明:1)ILTCS2模型在3组失效数据集上的评估结果均为最好(MSE值最小),且显著好于多数对比模型.这表明ILTCS2模型具有优秀的评估性能及适用性;2)选择合适的"完美排错"假设或"测试覆盖率"函数对模型评估性能的改进确实有重要影响.

关 键 词:测试覆盖率 不完美排错 软件可靠性建模 LOGISTIC模型 软件可靠性增长模型 

分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

 

参考文献:

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