检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国人民解放军95856部队二室
出 处:《计算机工程》2011年第S1期179-182,共4页Computer Engineering
摘 要:根据区域特征将晶相图像分成单晶体和共析体两部分,利用活动轮廓模型对单晶体区域进行伸展直到两部分边缘处停滞。通过SVC特征识别模型提供活动轮廓的边缘能量项。仿真结果表明,与RBF模型相比,在相同检测精度条件下,SVC模型耗费的资源少、效率高。根据区域特征将晶相图像分成单晶体和共析体两部分,利用活动轮廓模型对单晶体区域进行伸展直到两部分边缘处停滞。通过SVC特征识别模型提供活动轮廓的边缘能量项。仿真结果表明,与RBF模型相比,在相同检测精度条件下,SVC模型耗费的资源少、效率高。
关 键 词:材料分析 活动轮廓 支持向量分类模型 径向基函数分类模型
分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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