基于随机理论的RAID可靠性仿真方法  

RAID Reliability Simulation Based on Stochastical Method

作　　者：刘军平[1] 周可[1] 雷栋梁[1] 庞丽萍[1] 

机构地区：[1]华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室,武汉430074

出　　处：《计算机研究与发展》2011年第S1期12-16,共5页Journal of Computer Research and Development

基　　金：国家"八六三"高技术研究发展计划基金项目(2009AA01A402);国家"九七三"重点基础研究发展计划基金项目(2011CB302305)

摘　　要：廉价冗余磁盘阵列(RAID)的可靠性是一个研究热点.当磁盘的失效率符合泊松同分布时,可以利用一般的可靠性理论来计算磁盘阵列的可靠性.然而,当磁盘的失效率分布不符合泊松同分布时,继续利用传统的可靠性评估理论来评估RAID的可靠性就显得不太合适.提出了一种基于蒙特卡洛随机仿真的可靠性仿真方法来评估RAID的可靠性.首先假设磁盘的失效率符合Weibull分布,分析了RAID阵列在整个生命周期中的不同状态;其次,采样不同状态转移间的概率,并且仿真RAID阵列的时序行为;最后,记录仿真过程中的可靠性评估指标.为了验证仿真方法,做了两个实验来比较磁盘失效率分别满足Weibull分布和泊松同分布时的可靠性指标.实验结果显示理论值和仿真值之间的偏差是2%.廉价冗余磁盘阵列(RAID)的可靠性是一个研究热点.当磁盘的失效率符合泊松同分布时,可以利用一般的可靠性理论来计算磁盘阵列的可靠性.然而,当磁盘的失效率分布不符合泊松同分布时,继续利用传统的可靠性评估理论来评估RAID的可靠性就显得不太合适.提出了一种基于蒙特卡洛随机仿真的可靠性仿真方法来评估RAID的可靠性.首先假设磁盘的失效率符合Weibull分布,分析了RAID阵列在整个生命周期中的不同状态;其次,采样不同状态转移间的概率,并且仿真RAID阵列的时序行为;最后,记录仿真过程中的可靠性评估指标.为了验证仿真方法,做了两个实验来比较磁盘失效率分别满足Weibull分布和泊松同分布时的可靠性指标.实验结果显示理论值和仿真值之间的偏差是2%.

关 键 词：廉价冗余磁盘阵列 可靠性 仿真 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]