集成电路方波注入损伤效应试验研究  

作　　者：曹艳宾[1] 武占成[1] 孙永卫[1] 高永生[1] 李鹏举[1] 

机构地区：[1]军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003

出　　处：《河北科技大学学报》2011年第S2期129-132,共4页Journal of Hebei University of Science and Technology

摘　　要：为了准确测试方波脉冲注入对集成电路的影响,本文对GJB 538-88中的方波注入法进行了改进,通过设计专用测试夹具,解决了方波产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响,建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统。利用该系统测试了74LS08的性能参数。

关 键 词：方波注入 集成电路 损伤效应 

分 类 号：N55[自然科学总论]