后处理设备位移传感器的干扰源分析及解决  

作　　者：孙良勤[1] 冯梅[1] 鲍延年[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院化工材料研究所

出　　处：《设备管理与维修》2011年第S1期102-103,共2页Plant Maintenance Engineering

摘　　要：针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。

关 键 词：传感器 位移 干扰 

分 类 号：F4[经济管理—产业经济]