X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分  

Determination Components of Primary and Secondary in Silica by X-Ray Fluorescence Spectrometry

作　　者：王一凌[1] 曲月华[1] 杨丽荣[1] 王铁[1] 

机构地区：[1]鞍钢股份公司技术中心,辽宁鞍山114001

出　　处：《物理测试》2011年第S1期161-164,共4页Physics Examination and Testing

摘　　要：利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、A12O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得的结果的准确性。试验结果表明:该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5%,满足了硅石中常见组分快速分析的要求。利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、A12O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得的结果的准确性。试验结果表明:该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5%,满足了硅石中常见组分快速分析的要求。

关 键 词：X射线荧光光谱法 硅石 硅砖 主次成分 测定 差量法 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]