单晶和强织构材料宏应力的X光衍射分析方法  

X-Ray Diffraction Analysis for Macro Stress in Single Crystal and Strongly Textured Materials

作　　者：白埃民[1] 何崇智[1] 

机构地区：[1]钢铁研究总院,北京100081

出　　处：《物理测试》2011年第S1期180-186,共7页Physics Examination and Testing

摘　　要：定向凝固的镍基合金和硅、锗单晶以及取向硅钢等强织构材料的精确定向和宏应力计算一直是材料领域十分关注的问题,本文采用了一种基于单一极图识别晶体坐标系取向的方法,直接利用宏应力测算中的极角参数来确定晶体坐标系的欧拉角;讨论了将该方法和Suyama等人提出的宏应力X光衍射回归分析方法相结合的算法,使该方法更易于工程应用。定向凝固的镍基合金和硅、锗单晶以及取向硅钢等强织构材料的精确定向和宏应力计算一直是材料领域十分关注的问题,本文采用了一种基于单一极图识别晶体坐标系取向的方法,直接利用宏应力测算中的极角参数来确定晶体坐标系的欧拉角;讨论了将该方法和Suyama等人提出的宏应力X光衍射回归分析方法相结合的算法,使该方法更易于工程应用。

关 键 词：宏应力 X光衍射 模式识别 极图 

分 类 号：TB302[一般工业技术—材料科学与工程]