2000年7月14日特大耀斑引起的电离层TEC突然增强现象  

作　　者：万卫星[1] 袁洪[1] 刘立波[1] 宁百齐[1] 

机构地区：[1]中国科学院武汉物理与数学研究所,武汉430071

出　　处：《中国科学：数学》2001年第S1期120-125,共6页Scientia Sinica：Mathematica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:49974039);国家重点基础研究基金(批准号:G2000078407)

摘　　要：利用GPS网观测研究太阳耀斑爆发引起的电离层电子浓度总含量的突然增强(SITEC)现象.首先,根据电离层的Chapman电离理论,分析得出耀斑爆发引起的TEC时间变化率与太阳耀斑的有效辐射通量成正比、与太阳天顶角的Chapman函数成反比的结论.为了验证Chapman电离理论的这一简单推论,利用2000年7月14日特大太阳耀斑爆发期间中国、东南亚及澳大利亚的GPS网观测的TEC资料,统计分析了TEC的时间变化率与天顶角的Chapman函数的倒数间的相关性,发现两者确有很好的正比关系,从而证明了Chapman电离理论的正确性与可用性.结果表明,将GPS的观测用于太阳耀斑爆发等引起的电离层突然骚扰的研究,可以发挥GPS观测精度高、空间范围大、时间连续性好等优点,从而定量地揭示出与太阳爆发相关的电离层扰动过程.对电离层中的空间天气的监测与研究具有重要意义.

关 键 词：太阳耀斑爆发 TEC突然增强 TEC的GPS观测 Chapman电离理论 

分 类 号：P182.52[天文地球—天文学]