使用STM实现原子级超微定位的新方法  

A New Method of Using STM for Ultra-micropositioning in Atomic Order

作　　者：禹国强[1] 刘安伟[1] 胡小唐[1] 

机构地区：[1]天津大学精密仪器与光电子工程学院

出　　处：《航空精密制造技术》1999年第1期37-39,共3页Aviation Precision Manufacturing Technology

摘　　要：介绍了使用扫描隧道显微镜（ＳＴＭ），以规则的晶格作定位坐标刻度基准，采用针尖锁定到原子的技术，可以实现原子级超微定位这一新方法的原理、控制过程和简单的试验结果。An ultra-micro-positioning in atomic order can be operated the with the methods of position lock of a tip over an atom by using scanning tunneling-unit microscope(STM) and a regular crystalline lattice as a coordinate scale The principle of the new method,the process of control and the simulation results are introduced

关 键 词：扫描隧道显微镜 针尖锁定到原子 规则晶格 原子级超微定位 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程] O723.6[机械工程—仪器科学与技术]