检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:童晓明
出 处:《印制电路信息》1995年第11期44-46,共3页Printed Circuit Information
摘 要:1.0 范围/介电强度试验(也称作高电压[Hi-pot],超压或电压击穿试验)是在元件相互的隔离点之间或隔离点与地之间施加规定时间的电压。
关 键 词:试验方法 IPC 印制线路板 阻焊剂 电压击穿试验 阻焊膜 压敏胶带 介电强度试验 聚合物膜 适用文件
分 类 号:TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]
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