国外晶体元件标准测试方法简介  

作　　者：石文方 

机构地区：[1]二院203所

出　　处：《航天标准化》1994年第5期45-47,49,共4页Aerospace Standardization

摘　　要：概述了美、日及欧洲采用的晶体元件标准测试方法,即CI法、传输法和阻抗法,重点介绍了这三种测试方法的原理、检测装置、测量范围以及各项技术参数的计算方法,并对各测试方法的特性和我国采用的情况作了简要的分析与展望。

关 键 词：石英晶体元件 反射系数 方法简介 标准测试方法 零相位 寄生谐振 非线性最小二乘法 谐振电阻 测量方法 网络分析仪 

分 类 号：TN707[电子电信—电路与系统]