纯氧化钪中稀土杂质的 X 荧光分析  

作　　者：张长庚 

机构地区：[1]湖南稀土金属材料研究所

出　　处：《湖南有色金属》1992年第6期383-,357,共2页Hunan Nonferrous Metals

摘　　要：1 前言纯氧化钪中稀土杂质的测定,一般采用发射光谱或化学光谱法,用 X 荧光测定至今未见报道。本文对纯氧化钪中稀土杂质的 X荧光测定作了初步尝试。

关 键 词：中稀土 化学光谱 荧光测定 荧光分析 脉冲高度分析器 道宽 计数率 本底计数 测量条件 相关系数 

分 类 号：TF80[冶金工程—有色金属冶金]