场致发射显微分析综合系统  

作　　者：黄光明[1] 胡秉谊[1] 刘立民 刘武 任多敏[2] 

机构地区：[1]华中师范大学场致发射实验室 [2]中国科学技术大学基础物理中心

出　　处：《云南大学学报（自然科学版）》1992年第S1期31-33,共3页Journal of Yunnan University(Natural Sciences Edition)

摘　　要：场致发射显微分析术是基于量子隧道效应工作的显微分析术.自问世以来,在它发展的各个阶段,均为当时分辨最高的显微分析工具.由于它结构简单,分辨率高,能直接给出表面原子在真实空间的图象,成为研究分析固体表面、界面和微观结构的有力工具,受到各发达国家的充分重视.本文从场致发射显微分析技术的发展现状出发,说明了研制场致发射显微分析综合系统的意义,并介绍该系统的特点、主要功能和运用它所取得的初步成果.

关 键 词：场发射 综合系统 微观结构 负离子谱. 

分 类 号：N55[自然科学总论]