X射线衍射法鉴定液晶相结构原理  

作　　者：郑安呐[1] 陈建定[1] 吴叙勤[1] 

机构地区：[1]华东化工学院

出　　处：《自然杂志》1991年第7期512-518,共7页Chinese Journal of Nature

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：液晶已被广泛应用于现代科学技术。液晶相结构的鉴定是开发和应用液晶物质必不可少的一个过程。目前,X射线衍射(XRD)被认为是一种最为权威的方法,用它除了可测定液晶分子结构参数外,还可鉴别液晶物质在分子水平上的堆砌状态以及液晶相分子序的类型。于是,与液晶态相对应的XRD图形的分析就成为液晶研究中所关注的一个方面。

关 键 词：液晶相 X射线衍射法 液晶分子 向列相 液晶态 倒易点阵 近晶相 反射球 现代科学 图形的 

分 类 号：N49[自然科学总论]