68Ga特征射线相对分支比测量  

作　　者：江历阳 陈雄军 于伟翔 卢涵林 

机构地区：[1]核物理研究所

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2013年第1期73-74,共2页

摘　　要：68Ga的特征γ射线的分支比数据的准确性关系到69Ga(n,2n)68Ga反应截面测量的精度。在核数据重点实验室的高压倍加器上,用d-T反应产生的14 MeV的中子辐照用普通Ga2O3粉末压制成的圆片状样品来产生68Ga,辐照时间约10 min。辐照后的Ga样品在冷却约5 min后,用高纯锗γ谱仪测量了辐照后样品的γ能谱,从中得到68Ga发射的主要γ射线和湮灭辐射的相对分支比。

关 键 词：分支比 Ga 特征射线 高压倍加器 γ射线 Γ谱仪 反应截面 中子辐照 高纯锗 Γ能谱 

分 类 号：O571.323[理学—粒子物理与原子核物理]