集成电路质量控制案例分析与建议  

作　　者：侯雪川[1] 马亚青[2] 

机构地区：[1]中国航天科工集团公司第二研究院210所,北京100854 [2]中国北方车辆研究所,北京100072

出　　处：《航天标准化》2013年第2期34-37,共4页Aerospace Standardization

摘　　要：选取集成电路实际失效分析典型案例,对其主要失效模式及失效机理进行分析与研究,并对集成电路的质量控制及整机产品的设计提出几点建议。

关 键 词：集成电路 失效案例 质量控制 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]