层次分析法在半导体物理实验课成绩评分中的应用  

The Application of Analysis Hierarcy Process (AHP)in Test of Semiconductor Physics Experiment Course

作　　者：陈平[1] 

机构地区：[1]广州市华南理工大学应用物理系,广州510641

出　　处：《数学的实践与认识》2004年第7期12-18,共7页Mathematics in Practice and Theory

摘　　要：描述了影响半导体物理实验课评分的五个指标 ,介绍了层次分析法的原理 ,并将它应用到半导体物理实验课的评分中 ,建立了完善的、科学的评分方法 .最后列举了对九七级学生的评分实践 ,实践表明这种方法效果良好 .Five factors in test of semiconductor physics experiment course are described. The mathematical principle of the Analysis Hierarchy Process (AHP) is introduced. Based on AHP, the scientific test method of semiconductor physics experiment course are built.

关 键 词：层次分析法 评分指标 加权系数 标度矩阵 正互反矩阵 最大特征值 

分 类 号：O4-33[理学—物理]