大气颗粒物的TXRF分析技术研究  

Research of the Technology of TXRF Analysis in Airborne Particulate Matter

作　　者：王江雪[1] 郭兰英[1] 金立云[2] 曹雷[1] 

机构地区：[1]南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421001 [2]中国原子能科学研究院放射化学所,北京102413

出　　处：《南华大学学报（理工版）》2004年第1期63-66,共4页Journal of Nanhua University(Science & Engineering)

基　　金：湖南省自然科学基金资助项目(02JJY2002)

摘　　要：全反射X射线荧光(TXRF)分析是一种较先进的核分析技术,探测限可达到ng级.本文描述了TXRF技术的基本原理,并应用它分析了环境大气颗粒物.Total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis is an advanced nuclear analysis technology.Its Minimum Detection Limit is ng. This paper introduces the principle of TXRF and analyzes airborne particulate matter.

关 键 词：大气颗粒物 TXRF分析 全反射X射线荧光分析 探测限 大气监测 

分 类 号：X831[环境科学与工程—环境工程] O657.34[理学—分析化学]