Cost-effective test solutions for smart card and other integrated flash applications  

作　　者：Thomas M.Trexler 

机构地区：[1]Credence Systems Corporation

出　　处：《半导体技术》2004年第6期49-51,67,共3页Semiconductor Technology

关 键 词：智能卡 闪存 多电测试 测试成本 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]