红外光谱法检测粉尘中游离二氧化硅的试验研究  

Testing and Research for Free Silicon Dioxide in Dust by Infrared Spectrum Law

作　　者：赵松江[1] 文元明 

机构地区：[1]吉林省电力科学研究院,吉林长春130021

出　　处：《吉林电力》2004年第3期38-39,共2页Jilin Electric Power

摘　　要：针对焦磷酸重量法操作步骤复杂、准确性差的问题 ,提出利用红外光谱法检测粉尘中游离二氧化硅含量 ,并对样品和分散剂的研磨、称量以及标准工作曲线的绘制进行详细介绍。最后通过检测数据 ,对比分析了两种方法的准确度。

关 键 词：粉尘 游离二氧化硅 红外光谱法 检测 试验 防尘工作 电力行业 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]