X射线能谱Si(Li)探测器污染问题的研讨  

作　　者：万德锐 

机构地区：[1]四川大学

出　　处：《电子显微学报》1993年第2期202-202,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：通常X射线能谱Si(Li)探测器经使用后,不可避免地会受到污染,污染可分为两类:探测器外部——Be窗口污染;探测器内部——Si(Li)晶体和场效应管的污染。前者主要是探测器在有油真空中使用,探测器的低温使油蒸气不断凝结在Be窗口上,形成一层油膜,形成探测器外部的污染。后者主要是探测器真空容器密封不完善,大气总会不断渗漏进去,探测器是处于液氮温度,渗漏进去的空气中的氧,二氧化碳和水蒸气等由于其凝结温度高于液氮温度,它们将凝结在杜瓦瓶内表面,Si(Li)晶体和场效应管的表面,渗漏进去的氮气为探测器内的分子筛所吸附,探测器仍能维持高真空状态。渗漏和凝结在十分缓慢但从不间断地进行着。

关 键 词：X射线谱仪 探测器 污染 窗口 晶体结构 

分 类 号：TH838.3[机械工程—仪器科学与技术]