Study of BaxSr1-xTiO3 thin films using transverse-field Ising model  

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作  者:陶永梅 蒋青 

机构地区:[1]DepartmentofPhysics,SuzhouUniversity,Suzhou215006,China

出  处:《Chinese Physics B》2004年第7期1149-1155,共7页中国物理B(英文版)

分 类 号:TM21[一般工业技术—材料科学与工程]

 

参考文献:

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