非接触式透镜中心厚度自动测厚仪的研制  

作　　者：何家祥 张大卫 

出　　处：《动态分析与测试技术》1993年第2期42-47,4,共7页

关 键 词：共面电容 厚度 测量 自动检测 透镜 

分 类 号：TH740.6[机械工程—光学工程]