石英晶片测量分选系统的研究与设计  

Research and Design of Measuring and Sorting Quartz Crystal Wafer System

作　　者：罗凌辉[1] 桂卫华[1] 

机构地区：[1]中南大学信息科学与工程学院,湖南长沙410083

出　　处：《现代电子技术》2004年第13期68-70,共3页Modern Electronics Technique

摘　　要：阐述了基于 ISA总线接口的测量系统 ,采用 π网络法测量石英晶片的电参数 ,使用直接数字频率合成器( DDS)生成期望的频率扫描信号并激励 π网络的方法 ,获得石英晶片的谐振频率、活力、杂波数等电参数 ;分选系统通过对石英晶片电参数进行分析 ,由基于 ISA总线的步进电机控制卡控制分档。软件部分利用 V isual C+ + 6.0编写程序 ,由用户界面、数据分析模块、通信模块和数据库模块四部分组成。This paper elaborated the measuring system based on ISA bus interface, using the method of π network to measure the electrical parameters of quartz crystal wafer and direct digital synthesizer(DDS) to produce the wishing frequency scanning signal and stimulate π network We can get the resonate frequency,activity,clutter and so on; sorting system which analyzes the electrical parameters of quartz crystal wafer, is controlled by the step motor control card The software of controlling system consists of user interface,data analysis,communication and Database,which is programmed and realized by Visual C ++ 6 0

关 键 词：石英晶片 ISA总线接口 Π网络 步进电机控制卡 VISUAL C^++6.0 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]