X-射线衍射法测定尼龙1010结晶度  

CRYSTALLEVITY DETERMINATION OF NYLON 1010 BY WIDE-ANGLE X-RAY DIFFRACTION

作　　者：朱诚身[1] 牟忠诚[2] 杨宝泉[3] 莫志深[3] 

机构地区：[1]郑州大学材料工程系,郑州邮政编码450052 [2]东北师范大学测试中心,长春邮政编码130021 [3]中国科学院长春应用化学研究所高分子物理开放实验室,长春邮政编码130022

出　　处：《高分子学报》1993年第6期655-659,共5页Acta Polymerica Sinica

基　　金：国家自然科学基金;中国科学院高分子物理开放实验室资助课题

摘　　要：根据X-射线散射强度理论,使用图解多重峰方法对尼龙1010三个结晶峰及非晶峰的衍射强度进行校正,首次导出了尼龙1010结晶度计算公式,所得结果与密度及量热测定结果具有很好可比性。Using the atomic scattering factors approximation expression and corrections for angle and temperature, the correct factors of three main crystal planes and amorphous state of nylon 1010 by wide angle X-ray diffraction (WAXD) have been calculated. The equation for the determination of crystallinity of nylon 1010 by WAXD is presented.

关 键 词：X射线衍射 结晶度 聚酰胺 

分 类 号：O633.22[理学—高分子化学]