基于片上网络的系统芯片测试研究(英文)  

SoC Testing with Network-on-Chip

作　　者：荆元利[1] 樊晓桠[1] 张盛兵[1] 高德远[1] 周昔平[1] 

机构地区：[1]西北工业大学航空微电子中心,陕西西安710072

出　　处：《微电子学与计算机》2004年第6期154-159,共6页Microelectronics & Computer

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60276046)

摘　　要：文章介绍了基于片上网络对系统芯片进行测试的原理和实例,这是一种新的设计方法。首先讨论了未来系统芯片存在的各方面测试挑战,并提出了基于片上网络结构的解决方案。其次,在OSI网络堆栈参考模型的基础上,提出了面向测试的片上网络协议堆栈以及对应的测试服务。最后,介绍了基于片上网络的模块化测试方法。This paper introduce the SoC testing, based on the new design methodology Network-on-Chip (NoC). Testing challenges on future SoCs and possible NoC-based solutions are discussed. We put forward test-oriented NoC protocol stacks and test services on the basis of the OSI reference model. Finally, the NoC-based modular testing is introduced.

关 键 词：系统芯片测试 片上网络 协议堆栈 测试服务 模块化测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]