一种基于ATPG的ASIC前端验证环境的构建  

The Design and Implementation of An ATPG-based ASIC Former Verification Environment

作　　者：程文青[1] 赵宇[1] 夏晓菲[1] 

机构地区：[1]华中科技大学电子与信息工程系,武汉430074

出　　处：《微电子学与计算机》2004年第6期190-193,共4页Microelectronics & Computer

基　　金：美国combrio公司合作的"同步光纤网络(SONET)数据报文监控/分类系统(POSMonitor)"。

摘　　要：文章提出了一种基于自动测试向量生成(ATPG)的ASIC前端验证环境的构建方案,方案整合C,TCL和Ver鄄ilogHDL语言,有着良好的实用性和可扩展性。同时通过使用此验证环境,成功开发并流片成功三块总计约200万门的ASIC芯片。This paper brings forward a building scheme of atpg-based ASIC verification environment. It has integrated C, TCL and Verilog HDL languages to achieve good practicability and expansibility. By using this verification environment, we successfully design and sign off 3 chips that add up to about 2 million gates.

关 键 词：专用集成电路 前端验证 总线功能模型 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]