几种光电检测电路的性能比较  

Property Contrast of Several Photoelectric Measure Circuits

作　　者：周强[1] 王曙光[2] 

机构地区：[1]陕西科技大学,陕西咸阳712081 [2]西安邮电学院,陕西西安710061

出　　处：《现代电子技术》2004年第16期87-89,共3页Modern Electronics Technique

摘　　要：以 2 0 0 2年和 2 0 0 3年全国大学生电子竞赛中涉及的非接触式测量问题为研究对象。介绍和分析了几种实际的光电检测电路 ,并对难点问题的多种方案进行了研究和比较。In this article, the content of research is about some practical photoelectric measure circuit that had been used in the 2002′ and 2003′ electronic competition of the national undergraduate. The property of several important and difficulty circuits is contrasted and analyzed in detail.

关 键 词：光电检测电路 抗干扰 微分电路 测量 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]