高稳恒温晶体振荡器晶体拐点的自动调试  

Automatic Debugging of Turning Point of OCXO with High Stability

作　　者：高益[1] 刘刚[1] 高俊雄[1] 于军[1] 

机构地区：[1]华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉430074

出　　处：《电子元件与材料》2004年第9期22-24,共3页Electronic Components And Materials

基　　金：湖北省科技攻关"十五"重点项目(2001AA101A)

摘　　要：为了缩短高稳恒温晶体振荡器(OCXO)的开发周期,推动其批量化生产,利用计算机强大的分析控制能力以及计算机与外围设备方便可靠的通讯,提出了一种OCXO拐点自动调试的方法。实验研究表明这种方法可以有效优化OCXO的启动特性,3min内其稳定度可达1×10–8,提高OCXO的频率稳定度,其长期频率稳定度为0.5×10–8。To shorten design period and cut down the cost of OCXO, was found a way of automatic debugging of turning point of OCXO who controls temperature by a singlechip . The experiment result indicates that the system is propitious to optimize the startup characteristic of OCXO, the stability of its freguency in 3 min up to 1×10–8,and to increase the stability of its frequency, the long term stability of its frequency is 0.5×10–8.

关 键 词：电子技术 单片机 恒温晶体振荡器 晶体拐点 

分 类 号：TN384[电子电信—物理电子学]