光谱分析在碲化镉晶体制备和晶体评价中的应用  

Application of Spectral Analysis in Growing Technique and Evaluating of the Quality of CdTe Crystal

作　　者：张素英[1] 贾沛民[1] 林杏潮[1] 刘普霖[2] 诸君浩[2] 陆卫[2] 

机构地区：[1]中国科学院上海技术物理研究所 [2]红外物理国家实验室,上海市中山北一路420号200083

出　　处：《光谱实验室》1993年第4期61-65,共5页Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory

摘　　要：籍助于原子吸收法及X射线光电子能谱(XPS)的分析,比较了CdTe晶体制备的不同工艺条件。根据红外光谱和光致发光光谱的测量结果,对不同方法制备的CdTe晶体质量作了评价。Atomic absorption and X-ray photoelectron spectrum (XPS) have been used to compare conditions of the preparation of CdTe crystal. The quality of crystal grown by different technique has been evaluated using infrared absorption spectra and photoluminescence.

关 键 词：光谱分析 碲化镉 晶体 

分 类 号：O614.242[理学—无机化学]