紧凑条件下的动态测试技术研究  

Research of Dynamic Measure Technology in Narrow Condition

作　　者：石云霞[1] 范秋华[1] 曹秀玉[1] 孙朝霞[1] 

机构地区：[1]青岛建筑工程学院计算机工程系,青岛266033

出　　处：《青岛建筑工程学院学报》2004年第3期85-87,共3页Journal of Qingdao Institute of Architecture and Engineering

摘　　要：紧凑条件下的动态测试是测试领域中的一个很重要的方面 .笔者对狭小、紧凑空间的动态测试方法、存储测试方法和近场遥测方法进行了论述 。Dynamic measure is an important aspect in measure field in narrow condition. This paper discusses the dynamic measure methods in narrow space, i.e., memory measure and remote measure in near field, analyzes the feature of each methods, and gives the composing frame.

关 键 词：紧凑条件 存储测试 近场遥测 

分 类 号：TN06[电子电信—物理电子学]