高精度的平面度测量装置“Nanoface”  

作　　者：三上善秋 胡风 

出　　处：《国外计量》1993年第3期16-18,共3页

关 键 词：平面度 测量 测量装置 

分 类 号：TG832[金属学及工艺—公差测量技术]