几种α相Si_3N_4纳米结构的TEM表征  

TEM characterization of several α phase Si3N4 nanostructures

作　　者：张庶元[1] 张华[1] 李公普[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学理化中心,安徽合肥230026

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期368-368,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：陶瓷材料 氮化硅材料 纳米结构 结构表征 透射电子显微镜 晶体机构分析 

分 类 号：TM283[一般工业技术—材料科学与工程]