SrIn_(0.1)Ti_(0.9)O_3/SrNb_(0.2)Ti_(0.8)O_3双层膜的微结构研究  

Microstructure studies on epitaxial SrIn0.1 Ti0.9 O3/SrNb0.2 Ti0.8 O3 bilayer films

作　　者：张明[1] 马秀良[1] 李斗星[1] 

机构地区：[1]中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,辽宁沈阳110016

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期406-406,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：钙钛矿结构 金属氧化物多层膜 半导体技术 微观结构分析 高分辨电子显微镜 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]