透射电镜样品台移动的自动化设计  

Automatic control of a TEM specimen stage

作　　者：张兴堂[1] 万绍明[1] 孙成风[1] 党智强[1] 蒋晓红[1] 郭新勇[1] 

机构地区：[1]河南大学特种功能材料重点实验室,河南开封475001

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期485-485,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：透射电子显微镜 样品台移动 自动化设计 电路设计 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]