失效连接器触点表面的SEM和EDS分析  

Analysis of the contact surface on failed connectors by SEM and EDS

作　　者：冯萃峰[1] 周怡琳[1] 

机构地区：[1]北京邮电大学自动化学院电接触科研室,北京100876

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期490-490,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 2 770 0 2 )

关 键 词：电子连接器 接触故障 失效分析 扫描电子显微镜 X射线能谱仪 

分 类 号：TM503.5[电气工程—电器]