TEM薄膜样品制备中的几点经验  

Some experience in thin-film specimen preparation for TEM

作　　者：王凤莲[1] 李莹[1] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所,北京电镜实验室北京100080

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期511-511,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：透射电子显微镜 薄膜样品 样品制备 微结构分析 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]