检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:高建阳[1] 王志[1] 贾显鹏[1] 赵秀芳[1] 王立家[1]
机构地区:[1]山东铝业股份有限公司研究院,淄博255051
出 处:《人工晶体学报》2004年第3期411-413,共3页Journal of Synthetic Crystals
摘 要:本文介绍了电子显微镜、X射线衍射、氮吸附小比表面法、红外光谱结构分析、研磨法等用于陶瓷氧化铝晶粒度测定的情况 ,通过对比 ,指出了电子显微镜能够真实地反映微观世界 。The article introduced the measuring technique of the grain size of ceramic alpha alumina, including electronic microscope, Laue X-ray diffraction, nitrogen absorption specific surface area, infrared spectra and grinding method. It is concluded that the grain size of ceramic alpha alumina can be observed directly by electronic microscope,and it is the best way of the measurement.
关 键 词:Α-AL2O3 晶粒度 测定技术 陶瓷氧化铝 电子显微镜 陶瓷材料
分 类 号:TQ174[化学工程—陶瓷工业] O7[化学工程—硅酸盐工业]
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