电感耦合等离子体质谱(ICP—MS)法测定高纯碳酸锂中杂质元素  

作　　者：钟家跃[1] 吴淑芳[1] 

机构地区：[1]江西医学院药学系,江西南昌330003

出　　处：《江西化工》2004年第3期154-155,共2页Jiangxi Chemical Industry

摘　　要：用电感耦合等离子质谱仪 (简称ICPMS)直接测定高纯碳酸锂 (≥ 99.995 % )的杂质元素 ,考察了Li基体的谱线干扰 ,采用In作内标分别克服了基体的增强和抑制效应。测定了高纯碳酸锂中 1 6种杂质元素。加标回收率 82 %～ 1 1 1 % ,RSD <1 0 %

关 键 词：电感耦合等离子质谱仪 高纯碳酸锂 杂质元素 抑制效应 

分 类 号：O657.63[理学—分析化学]