IEEE754标准浮点测试向量的生成  

Generation of Test Suite for Floating-point Arithmetic Based on IEEE754 Standard

作　　者：何立强[1] 

机构地区：[1]中国科学院计算技术研究所,北京100080

出　　处：《计算机工程》2004年第19期38-39,64,共3页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助 项目(69896250-1;69973046)

摘　　要：介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施。This paper proposes the test suites generating method for floating-point unit based on IEEE754 standard, discusses the fault coverage of the test suites. And it gives some improving measures for the method.

关 键 词：IEEE754 测试 测试向量 差错覆盖率 浮点功能部件 

分 类 号：TP393.06[自动化与计算机技术—计算机应用技术]