红外线性阵列温度非均匀性对阵列成象质量影响的研究  

作　　者：周建勋[1] 魏殿修[1] 刘世才[1] 

机构地区：[1]华东工学院

出　　处：《红外与激光技术》1993年第4期20-23,10,共5页

基　　金：国家博士点基金资助

摘　　要：本文从理论上分析了红外线性阵列(简称线列)温度非均匀性的产生及其所对应的非线性稳态温度场方程和边界条件。指出温度的非均匀性将导致各探测单元间的D~*(λ、T)不同,D~*(λ、T)绝对值差异产生的非均匀性可以通过对单元器件放大倍数的数值修正来进行补偿,而D~*(λ、T)随λ、T分布不同产生的非均匀性将无法用单纯数值方法进行补偿,它将在输出图象上产生一个与温度非均匀性分布相关的空间色噪声。

关 键 词：红外探测器 线性阵列 非均匀性 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]