X射线定性分析方法——哈纳瓦尔法  

X - ray identification method-hanawalt method

作　　者：吴万国[1] 丁音琴[1] 黄清明[1] 

机构地区：[1]福州大学,福建福州350002

出　　处：《福建分析测试》2003年第4期1876-1878,共3页Fujian Analysis & Testing

摘　　要：本文介绍X射线定性分析的基本方法——哈纳瓦尔法的工作原理、ICDD卡片及索引书。用一个具体的例子说明该方法的实施过程,以帮助初学者更好地掌握这一重要的分析技术。The paper describes the primal method of x - ray identfication - Hanawalt method. It's working principle, ICDD card and Indexex. Using a concrete example, we show the practice course of the method. It may be useful to the beginners of the important analysis technique.

关 键 词：X射线 定性分析 哈纳瓦尔法 三强线面间距 工作原理 ICDD卡片 衍射线 晶面间距 索引书 

分 类 号：O434.12[机械工程—光学工程]