检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]北京科技大学材料科学与工程学院,北京100083
出 处:《半导体技术》2004年第11期32-35,48,共5页Semiconductor Technology
摘 要:通过SEM观察了经历不同弯曲次数疲劳试验的可伐合金引线样品,分析了引线在弯曲试验中所受的应力,提出了外引线弯曲疲劳断裂的失效模型,并讨论了施加的载荷、玻璃弯月面以及表面覆盖层对外引线弯曲疲劳断裂行为的影响。Sample sections of kovar alloy lead subjected deferent numbers of bend in fatiguetest were observed by SEM. The applied stresses of lead during test were analyzed and a failuremodel of fatigue fracture for leads was established. The effects of applied load, glass meniscus andsurface coating on fatigue of leads were also discussed.
分 类 号:TN305.93[电子电信—物理电子学]
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