检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:焦正[1] 李珍[1] 吴明红[1] 顾建忠[1] 王德庆[1]
出 处:《Journal of Semiconductors》2004年第11期1464-1468,共5页半导体学报(英文版)
基 金:上海市应用材料研究发展基金 ( No.0 3 18);上海市启明星基金 ( No.0 3 QB14 0 17)资助项目~~
摘 要:采用 AFM阳极氧化方法 ,在控制 AFM探针尖端电压和扫描方式的条件下 ,在 Al/Si O2 /Si表面制备了 Al2 O3纳米图形 ,图形最小尺寸为 70 nm .研究了表面吸附水层存在下 AFM阳极氧化机理 .实验结果表明AFM anode oxidation is used to fabricate Al 2O 3 nano patterns on Al/SiO 2/Si.The nano pattern as small as 70nm is fabricated by controlling applied voltage and scanning rate of AFM cantilever.The oxidation mechanism with the existence of surface water layer is discussed.The results show AFM anode oxidation is a possible effective method to prepare metal oxidized semiconductor nano devices.
分 类 号:TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
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