CMOS电路开关级测试生成的一种新算法  

A NEW ALGORITHM FOR SWITCH-LEVEL TEST GENERATION OF CMOS CIRCUITS

作　　者：胡江红[1] 胡谋[1] 

机构地区：[1]上海铁道学院可靠计算系统研究室,上海200333

出　　处：《计算机学报》1993年第6期416-423,共8页Chinese Journal of Computers

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文提出了一种新的CMOS电路开关级测试生成算法,该算法以Hayes模型为基础,以开关级代数为工具,充分利用CMOS电路自身的特点,生成CMOS电路的完全测试集,这种算法较之于已有的算法简单而有效,检测CMOS电路的常开型故障需一对测试码,本文给出了一种简单的求一对稳健测试码的方法,基于这种算法,我们开发了一个测试自动生成软件。A new algorithm for switch-level test generation of CMOS circuits is proposed in this paper.The algorithm is based on the Hayes model and switch-level algebra.It takes advantages of CMOS circuit features,and can generate a complete test set for a given CMOS circuit.The proposed algorithm is simpler and more efficient than existing algorithms.A simple method is given in this paper to generate a pair of robust tests to test stuck-open faults.A test generation software package is developed based on this algorithm.

关 键 词：测试 CMOS电路 开关级 算法 

分 类 号：TP331.13[自动化与计算机技术—计算机系统结构]