数模混合信号的测试与仿真  

Analog/Digital Mixedsignal Circuit Testing and Simulation

作　　者：徐卫林[1] 何怡刚[1] 厉芸[1] 

机构地区：[1]湖南大学电气与信息工程学院,湖南长沙410082

出　　处：《现代电子技术》2004年第22期80-82,93,共4页Modern Electronics Technique

基　　金：高校博士学科点专项科研基金 (2 0 0 2 0 532 0 1 6) ;湖南省杰出青年基金 ;湖南大学撷英计划基金;湖南省科技计划基金 [0 3GKY31 1 5]

摘　　要：VL SI的发展特别是 So C的出现 ,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求。结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点。With the development of VLSI, especially systemonchip(SoC), it is imperative to engage in the research of mixedsignal circuit testing. The paper discussess all kinds of testing measures and their characteristics along with the difficulty of designfortestablity(DfT) of SoC.

关 键 词：片上系统 混合信号 扫描测试 内置自测试 故障仿真 

分 类 号：TP352[自动化与计算机技术—计算机系统结构]