散布阵检验统计量的P-值  

作　　者：崔恒建 成平[1] 

机构地区：[1]中国科学院系统科学研究所,北京100080

出　　处：《科学通报》1993年第6期564-567,共4页Chinese Science Bulletin

摘　　要：设X_1 ,X_2,…,X_niidX～EC_p(μ,Σ),即椭球等高分布:X-μR·Σ1/2U,U为S^(p-1)={a|a∈R^p,‖a‖=1}上的均匀分布,R≥0为已知的非退化r.v.μ∈R^p,Σ_(p×p)>0为未知,我们考虑假设检验问题:H_0Σ=Σ_0>0,K:Σ_0通常在正态假设下,其检验统计量一般用Wishart统计量,Wilks统计量及MLR统计量,而在椭球等高分布下,这些统计量的分布很难求出,只能借助于大样本理论或模拟计算,见文献[1,2],这也同样会遭遇维数灾祸的困难.为此我们利用投影寻踪(pp)方法和1维中检验方差的方法构造Σ的检验统计量如下:

关 键 词：投影寻踪 统计量 P值 假设检验 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计]